解析事例：実装基板における表面異物の解析

実装基板の表面に存在する残渣や異物は接続不良や回路のショートなどを引き起こす原因となります。
今回は実装基板の表面における異物が何かを調査するために、XPSおよびTOF-SIMS分析を行いました。
その結果、表面異物からロジンが検出され、はんだ付けに用いられるフラックスの残渣であることが分かりました。

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実装基板における表面異物の解析

解析事例：実装基板における表面異物の解析

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